主營:振動試驗(yàn)臺,振動臺,紫外老化試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱,鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
所在地:
湖北 武漢
產(chǎn)品價(jià)格:
電議(大量采購價(jià)格電議)
最小起訂:
1
物流運(yùn)費(fèi):
買家承擔(dān)運(yùn)費(fèi)
發(fā)布時(shí)間:
2015-10-23
有效期至:
2015-11-23
產(chǎn)品詳細(xì)
電子組件振動試驗(yàn)臺法 一、電子組件振動試驗(yàn)臺法適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測定電子組件(以下簡稱組件)于運(yùn)輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。 注:試驗(yàn)方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性,試驗(yàn)方法Ⅱ適用于測定共振點(diǎn)及試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點(diǎn)之偏距,試驗(yàn)方法Ⅲ適用于測定在共振點(diǎn)之耐久性。 二、電子組件振動試驗(yàn)臺法裝置:振動裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗(yàn)且符合下列條件。 (1)振動波形及失真率:施加于供試品之振動波形為正弦波,供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。 (2)振動振幅:規(guī)定振動方向之振幅容許差,須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。 (3)與規(guī)定振動方向垂直之振動:于供試品安裝位置,與規(guī)定振動方向垂直之振動,不論任何方向,其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。 (4)振動頻率容許差:50Hz以下就為±1Hz,超過50Hz時(shí)應(yīng)為±2%。 (5)掃描(1)方法:原則是為對數(shù)掃描,但平均掃描亦可。 注:(1)1次掃描,例如10—55——10Hz,是指在規(guī)定振動頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。 三、電子組件振動試驗(yàn)臺法準(zhǔn)備 3.1 供試品之安裝:將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法,直接或使用夾具堅(jiān)固地安裝于振動臺上。使用夾具時(shí),須能施加振動于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向,且夾具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度,安裝后亦不得松動或發(fā)生共振,組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。 (1) 固定組件本體(有導(dǎo)線之組件,亦同時(shí)固定導(dǎo)線)。 (2) 僅固定導(dǎo)線。 四、電子組件振動試驗(yàn)臺法試驗(yàn) 4.1 前處理:原則上不作前處理。但有特別需要時(shí),依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。 4.2 初期測定:依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行,檢查外觀。 4.3 試驗(yàn)方法:依下列各項(xiàng)施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場影響時(shí),于組件中應(yīng)規(guī)定其較大允許值。 4.3.1 試驗(yàn)方法種類:試驗(yàn)方法分為Ⅰ(掃描耐久試驗(yàn))、Ⅱ(共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn))及Ⅲ(共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)) (1)試驗(yàn)方法Ⅰ(掃描耐久試驗(yàn)):依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定,照下表施行(參照圖)。 振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗(yàn)時(shí)間各方向均相同,合計(jì)6小時(shí)。 表 振動種類 試驗(yàn)條件 種類A 種類B 種類C 振動頻率范圍 10~55Hz 100~500Hz 10~2000Hz 全振幅或加速度 1.5mm 1.5mm或98m/s2(10G)中較小者 1.5mm或196m/s2(20G)中較小者 掃描之比例 10-55-10Hz 約1分鐘 10-500-10Hz約15分鐘 10-2000-10Hz約20分鐘 掃描方法 對數(shù)掃描或平均掃描 試驗(yàn)時(shí)間 6小時(shí)
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