Thick-900A型X熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。Thick-900A型X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。我公司集中了國內較的X熒光分析﹑電子技術等行業(yè)技術研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術人員，依靠先進科學研究，總結多年的現(xiàn)場應用實踐經(jīng)驗，結合中國的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的Thick-900A型X熒光鍍層測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。三. 儀器特點：1． 儀器外觀選用獨特的流線型設計，時尚雅致。2． 同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。3． 可以分析較多5層鍍層，一次可分析元素多達24種。4． 無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。5． 檢出限可達到2ppm。6． 分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。7． 采用美國原裝、國際先進的探測器，能量分辨率高。8． 采用美國原裝、國際先進的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠。9． X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示。10． 采用彩色攝像頭，準確觀察拍攝樣品。11． 采用電動無極控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便。12． 采用雙激光對焦系統(tǒng)，準確定位測量位置。13． 高度傳感器。14． 保護傳感器，有效保護探測器。15． 準確度高，穩(wěn)定性好，故障率低。16． 輻射安全系統(tǒng)：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線防護系統(tǒng)多層屏蔽保護，輻射安全性可靠。17． WINDOWSXP中文應用軟件，獨特先進的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便。四.儀器的技術特性1． X-Y-Z樣品平臺移動裝置Thick-900A型X熒光鍍層測厚儀的X-Y-Z樣品平臺采用電動移動裝置，具有可容納各種形狀的鍍層樣品及電鍍液體樣品的超大樣品室。使用簡單方便。2. X射線管激發(fā)系統(tǒng)激發(fā)系統(tǒng)采用獨特的正置直角光學結構設計。高電壓發(fā)生器：電壓與電流采用軟件自動數(shù)碼控制及顯示。較大功率50W。電壓0-50KV，電流0-1000uA。8小時穩(wěn)定性≤0.05%。長壽命X光管：采用低功率﹑自然冷卻﹑高壽命、國際先進水平的X光管，指標達到國際先進水平。較大功率50W，管壓5-50KV；管流電流0-1000uA。3．高分辨率的探測器系統(tǒng) 進口原裝電制冷探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。較佳分辨率能達到149eV±5ev。4．能譜儀電子學系統(tǒng)原裝進口前置放大器及放大器等信號處理器：適應高計數(shù)率，高抗干擾能力的一體化電子線路。模數(shù)轉換器采用高精度的2048道。5．計算機分析系統(tǒng)高級品牌計算機；高分辨率彩色液晶顯示器。高級激光打印機。6．系統(tǒng)軟件國際領先的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證：單層、雙層、多層、合金鍍層測試數(shù)據(jù)的準確性。7．電源 AC220V～240V、50Hz。額定功率：350W。選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源。8．儀器尺寸、重量樣品腔尺寸：498*360*158mm（W*D*H）主機外形尺寸：580*500*580mm（W*D*H） 五.應用:塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。